ICT测试具有操作简单、快捷迅速、故障定位准确等特点，但是也存在很多不足之处，下面就给大家介绍一下其不足之处
1、实现局限性
使用ICT进行测试时，通常不同的机型需要不同的针床，因此成本相对偏高，如果对产品要求不是很严格，或者生产量不大，一般不用ICT测试。
2、不可测局限性
实际的电路板中，大量的零件串并联在一起，ICT 测试时有一些情况无法测量或无法准确测量:
(1)探针不可即的零件;
一般来说，只有当零件的两端(或各引脚)所在的铜箔面均有探针触及时才可测试，PCB板上零件密集，有一些零件无法设置测试点，探针不可触及零件两端，导致零件不可测。
(2)小电容并联大电容，小电容不可测; ,
两电容C1，C2并联后，容值为C1+C2，一般而言,如果C2的容值是C1的10倍以上,则C1不可测。通常ICT测试电容允许实际值与标准值误差范围为+20%。当C1=1F, C2=10F时，总容抗C=C1+C2=11F,测量时，下限为8. 8F，上限为13.2F,即测量时容抗在8.8F~13.2F之间就可PASS。如果C1少件时，C=10F， 在允许误差范围内，测试也可通过，所以与大电容并联的小电容不可测。
(3)大电阻并联小电阻，
大电阻不可测; ,两电阻R1，R2并联后，阻抗为R1*R2// (R1+R2)，如果 R1的阻值是R2的20倍以上，则R1不可测.ICT测试电阻一般允许实际值与标准值误差范围为+10%。当R1=20Q ，R2=10 ，总阻抗R=O. 95242，测量时，下限为0. 85710，上限为1.04760，即测量时阻抗在0. 85712 ~1. 04762之间就可PASS.如果R1少件时，R=10，在允许误差范围内，测试也可通过，所以与小电容并联的大电容不可测。
大电阻不可测; ,两电阻R1，R2并联后，阻抗为R1*R2// (R1+R2)，如果 R1的阻值是R2的20倍以上，则R1不可测.ICT测试电阻一般允许实际值与标准值误差范围为+10%。当R1=20Q ，R2=10 ，总阻抗R=O. 95242，测量时，下限为0. 85710，上限为1.04760，即测量时阻抗在0. 85712 ~1. 04762之间就可PASS.如果R1少件时，R=10，在允许误差范围内，测试也可通过，所以与小电容并联的大电容不可测。
(4)小电阻或小电容过小，无法准确测试;电阻过小时，探针、排线等都会对测量造成较大影响，所以阻值过小的电阻无法准确测试。
(5)同一金道上的跳线以及相并联的的跳线不可测，不同粗细或不同材质的跳线不可测;
(6)同一金道上或相并联的跳线缺件时，无法判断是哪一个缺件。
(7)大电阻并联大电容，大电阻无法准确测试;
(8)小电容并联小电阻，小电容无法准确测试;
(9)大电阻并联小电感，大电阻常不可测;
(10) 电容并联电感，两者往往都不可测.这里的电感包括变压器,继电器等
(11)二极管并联小电阻，二极管插反或漏件均不可测;
(12) 与跳线或电感并联的二极管不可测;
(13) 两个二极管同向并联，其中一个漏件或空焊不可测;
(14)小电感错件为跳线或被短路。
